logo
Huis > producten >
Transformatortester
>
XHBX1501 Transformer Winding Deformation Tester met FRA-methode

XHBX1501 Transformer Winding Deformation Tester met FRA-methode

Productdetails:
Plaats van herkomst: China
Merknaam: XZH TEST
Certificering: CE/ISO
Modelnummer: XHBX1501
Detailinformatie
Plaats van herkomst:
China
Merknaam:
XZH TEST
Certificering:
CE/ISO
Modelnummer:
XHBX1501
Markeren:

High Light

Markeren:

Transformer Winding Deformation Tester

,

FRA-methode transformatortoetser

,

transformator tester met garantie

Trading Information
Min. bestelaantal:
1 eenheid
Verpakking Details:
houten verpakking
Levertijd:
5-8 werkdagen
Betalingscondities:
T/T
Levering vermogen:
1000 eenheden per jaar
Productomschrijving
Transformer Wikkeling Deformatie Tester voor Nauwkeurige Bepaling van Interne Transformator Fouten
De XHBX1501 Transformer Wikkeling Deformatie Tester maakt gebruik van frequentieresponsanalyse (FRA) methodologie om interne transformatorfouten nauwkeurig te beoordelen door karakteristieke wikkelparameters te meten. Deze geavanceerde diagnostische tool kwantificeert responsveranderingen over verschillende frequentiedomeinen om de ernst van wikkeldeformatie te bepalen, waardoor weloverwogen beslissingen kunnen worden genomen over de onderhoudsvereisten van de transformator.
XHBX1501 Transformer Winding Deformation Tester met FRA-methode 0 XHBX1501 Transformer Winding Deformation Tester met FRA-methode 1
Technische Specificaties
Parameter Waarde
Testsnelheid 1-2 minuten per fase wikkeling
Sweep Test Bereik 100Hz-2MHz
Amplitude Test Bereik -100dB tot 20dB
Signaal Uitgangsimpedantie 1MΩ
Signaal Uitgangsspanning 50Ω
Totaal Gewicht 10KG
Instrument Afmetingen 310×400×330mm (aluminium behuizing)
Scan Frequentie Nauwkeurigheid 0.005%
Belangrijkste Kenmerken
  • High-speed microprocessor met geavanceerde integratie
  • Dubbele communicatie opties: USB-poort en optionele Bluetooth
  • DDS digitale frequentie sweep technologie (VS) voor precieze foutdiagnose, inclusief draaien, uitstulpingen, verplaatsing en kortsluitingsdetectie
  • High-speed dual-channel 16-bit A/D sampling met zichtbare golfvormveranderingen tijdens tapwisselaarwerking
  • Software-instelbare signaaluitgangsamplitude (±10V piek)
  • Automatische testresultaatanalyse met Word document generatie
  • Dubbele meetsystemen: lineaire en gesegmenteerde sweep frequentie modi
  • Voldoet aan DL/T911-2004 energiestandaard voor wikkeldeformatieanalyse
  • Geavanceerde data-analyse met horizontale (A-B-C fase) en longitudinale (historisch vs. huidig) vergelijkingsmogelijkheden
  • Flexibele frequentie-indexeeropties (lineair of logaritmisch) voor aangepaste curvegeneratie